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Fakultät Maschinenbau
Soft-X-Ray-Emission-Detektor © LWT

SXES Detektor

Das SXES ist ein leistungsstarkes Spektrometer mit hoher Energieauflösung zur Analyse leichter Elemente. Es ist am LWT als Teil eines integrierten Analysesystems zur Verwendung mit der Mikrosonde vorgesehen. Das SXES ermöglicht Analysen im Niederspannungsbereich bei <1 kV, spektrales Mapping mit hoher Energieauflösung, schnelle Paralleldetektion und Analysen chemischer Zustände.

Kenndaten/Ausstattung:

  • Hervorragender Nachweis von leichten Elementen (für Li geeignet)
  • Ideal für die Analyse chemischer Bindungszustände leichter Elemente
  •  Ausgezeichnete Empfindlichkeit – wenige Dutzend ppm Bor bei Stahl
  • Energiebereich – 50 eV bis 210 eV
  • Höchste Auflösung – 0,3 eV
  • Keine beweglichen Teile, wodurch eine hohe Stabilität und Reproduzierbarkeit erzielt wird
  • Teil eines integrierten Analysesystems oder eigenständiger Detektor zum Nachrüsten
  • Benutzerfreundliches spektrales Mapping

(Quelle: Fa. Jeol)

Vergleich zwischen SXES - WDX – EDX

  SXES WDX EDX

Auflösung

0,3 eV

8 eV

129 eV

Analyse chemi­scher Zustände

möglich

möglich

nicht möglich

Parallel­detektion

möglich

nicht möglich

möglich

Erkennung

Gitter

Kristall

SDD, SiLi,

Kühl­system

Peltier

nicht erforder­lich

Peltier

Empfindlich­keit

20 ppm (@B)

100 ppm (@B)

0,1 % (@B)

Beispiel

Unterscheidung von FeB und Fe2B im Gefüge

SXES Mapping, chemische Zustandsanalyse FeB vs. Fe2B © Fa. Jeol
SXES Mapping, chemische Zustandsanalyse FeB vs. Fe2B

(Quelle: Fa. Jeol)

Ansprechperson