JEOL HyperProbe JXA-iHP200F

Feldemissions-Elektronenstrahlmikrosonde mit EDX, WDX und SXES

Merkmale

1. Patentierte In-lens Schottky FEG
   Die patentierte, extrem langlebige In-Lens Schottky Plus FEG bietet eine optimierte Strahlstromdichte, welche die Analyse mit variabel und kontinuierlich einstellbaren Sondenströmen von 1 nA bis zu 3 μA ermöglicht. Daneben wird in der Sekundärelektronenabbildung eine sehr hohe Auflösung von 2,5 nm ermöglicht.
    
2. Kombiniertes WDS/EDS-System
   Die JEOL Mikrosonde JXA-iHP200F ist mit einem 30-mm²-Silizium-Drift-Detektor (SDD) EDS-System ausgestattet, der in voller Funktionalität in die Mikroskop-Softwareoberfläche eingebunden ist, bspw. mit Live-EDS-Spektren, Live-Mapping, etc. Das JEOL-EDS System ist durch eine variable Blende speziell auf die Auswertung von hohen Zählraten ausgelegt und ermöglicht EDS-Analysen unter WDS-Bedingungen. Zudem können die EDS- und WDS-Daten kombiniert werden. Intelligente Software erlaubt es darüber hinaus, gemessene EDS-Spektren zur automatischen Auswahl der WDS-Kristalle zu verwenden.
    
3. Automatische Schleuse und vielseitige Probenkammer
   Die Mikrosonde ist mit einer großen Probenkammer und automatischen Probenschleuse ausgestattet. Dadurch können Proben sicher und schnell ein- und ausgebaut werden und eine Vielzahl von optionalen Erweiterungen integriert werden.
    
4. Soft X-ray Emission Spectrometer (SXES)
   Das höchstauflösende System erlaubt die parallele Detektion von Röntgenspektren mit sehr hoher Energieauflösung und ermöglicht neben der Detektion von Li-K- und B-K-Spektren auch die Analyse von Bindungszuständen.