![Cross Selection Polisher](/storages/lwt-mb/r/Ausstattungsbilder/werkstoffentwicklung_-pruefung_und_-analytik/Elektronenmikroskopie/Cross-Section-Polisher_Kachel.png)
Cross Section Polisher
Der JEOL Cross Section Polisher IB-09010CP ist ein einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen. Weiche, harte und Verbundwerkstoffe können mit einem Minimum an Probenschädigung, -verformung und -verschmierung präpariert werden.
Ein Ar-Ionenstrahl schneidet Querschnitte in praktisch alle Materialien und erzeugt eine saubere, polierte Oberfläche über einen großen Probenbereich.
![](/storages/lwt-mb/_processed_/b/b/csm_Cross-Section-Polisher_Abbildung1_f9234343ef.png)
- (a) Schematic view of the cross-section polishing process: the sample side not protected by the shield plate is polished with the Ar -ion beam;
- (b) SEM image of a Si wafer cross-section obtained by the ion-milling polishing method (XY plan).
Spezifikationen
![Spezifikationen](/storages/lwt-mb/_processed_/f/c/csm_Cross-Section-Polisher_Tabelle1_d38f38045b.png)
Anwendungsbeispiele
![PVD Beschichtung: Ti-TiAlN](/storages/lwt-mb/_processed_/c/b/csm_Cross-Section-Polisher_Abbildung2_10926d0076.png)
![Thermische Spritzschicht WC-Co](/storages/lwt-mb/_processed_/9/b/csm_Cross-Section-Polisher_Abbildung3_6305b8f6b2.png)