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Großkammer-REM Fa. Ellcie (vormals Fa. Visitec)

Typ: Mira VP

grosskammer_rem_02grosskammer_rem_01Die Kombination eines Rasterelektronenmikroskopes mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDX-Analyse) ermöglicht neben der morphologischen und topographischen Untersuchung von glatten und rauen Oberflächen bei geringen sowie höheren Vergrößerungen auch die qualitative und quantitative Elementanalyse im Mikrobereich. Zusätzlich besteht die Möglichkeit mit dem EBSD-Detektor den kristallinen Aufbau von Werkstoffen (z.B. Charakterisierung der Gitterstruktur, Lage und Orientierung von Kristallen im Raum, Texturanalyse) zu bestimmen. Aufgrund der großen Kammer des Elektronenmikroskopes können große Bauteile direkt und vollständig ohne Entnahme eines Probenstücks untersucht werden.

Typ Mira VP
Detektoren
  • Sekundärelektronendetektor
  • Rückstreuelektronendetektor
  • EDX-Detektor (Fa. ThermoFisher Scientific)
  • EBSD-Detektor (HKL/Fa. Oxford Instruments)
Probengröße max. Durchmesser 600 mm, max. Höhe 600 mm
Probengewicht max. 300 kg
Vakuumkammer LxBxH 1400 x 1200 x 1300 mm³
Beschleunigungsspannung 0,3 - 30 kV


Nebeninhalt

Kontakt

Foto von Dipl.-Ing. (FH) Lydia Reisch-Lang

Dipl.-Ing. (FH) Lydia Reisch-Lang

Telefon: 0231 755-4791

Adresse:

Lehrstuhl für Werkstofftechnologie
Leonhard-Euler-Str. 2
44227 Dortmund
Deutschland

Raum 109