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Feldemissionsrasterelektronenmikroskop Fa. Jeol

Typ: JSM 7001F

feldemissionsrasterelektronenmikroskop_01Die Kombination eines Rasterelektronenmikroskopes mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDX-Analyse) ermöglicht neben der morphologischen und topographischen Untersuchung von glatten und rauen Oberflächen bei geringen sowie höheren Vergrößerungen auch die qualitative und quantitative Elementanalyse im Mikrobereich. Zusätzlich besteht die Möglichkeit mit dem EBSD-Detektor den kristallinen Aufbau von Werkstoffen (z.B. Charakterisierung der Gitterstruktur, Lage und Orientierung von Kristallen im Raum, Texturanalyse) zu bestimmen.

Typ JSM 7001F
Kathode Thermische Feldemissionskathode, in-lens Schottky-Feldemissionskathode

(Hoher Strahlstrom/hohe Strahlstabilität)

Detektoren
  • Sekundärelektronendetektor
  • Rückstreuelektronendetektor
  • EDX-Detektor (Fa. Oxford Instruments, Software INCA)
  • EBSD-Detektor (Fa. HKL/Oxford Instruments)
Beschleunigungsspannung 0,5-30 kV
Auflösung 3 nm / 1 kV; 1,2 nm / 30 kV
Vergrößerung x10 - 1.000.000
Sonstiges
  • Probenschleuse
  • Infrarotkamera
  • Gentle-Beam-Mode (reduziert Aufladungen)

 



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Kontakt

Foto von Dipl.-Ing. (FH) Lydia Reisch-Lang

Dipl.-Ing. (FH) Lydia Reisch-Lang

Telefon: 0231 755-4791

Adresse:

Lehrstuhl für Werkstofftechnologie
Leonhard-Euler-Str. 2
44227 Dortmund
Deutschland

Raum 109