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Rasterelektronenmikroskop JSM 840 der Fa. Jeol

rasterelekronenmikroskop_jsm_840Die Kombination eines Rasterelektronenmikroskopes mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDX-Analyse) ermöglicht neben der morphologischen und topographischen Untersuchung von glatten und rauen Oberflächen bei geringen sowie höheren Vergrößerungen auch die qualitative und quantitative Elementanalyse im Mikrobereich.

TypJSM 840
KathodeWolframkathode
DetektorenSekundärelektronendetektor
Rückstreuelektronendetektor
EDX-Detektor
ZusatzmoduleIn-situ-Biegemodul (Druckkraft 500N/max. Weg: 2mm)
Ultramikrohärteprüfmodul (Prüfkraftbereich: 5x10-5N-2x 10-5N)



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Kontakt

Foto von Dipl.-Ing. (FH) Lydia Reisch-Lang

Dipl.-Ing. (FH) Lydia Reisch-Lang

Telefon: 0231 755-4791

Adresse:

Lehrstuhl für Werkstofftechnologie
Leonhard-Euler-Str. 2
44227 Dortmund
Deutschland

Raum 109