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Rasterelektronenmikroskop JSM 35 CF der Fa. Jeol

rasterelekronenmikroskop_jsm_35_cfDie Möglichkeit einer direkten Benetzung zeitlich ablaufender, z.B., Lötprozesse ohne Unterbrechung des Glühens („in-situ“-Untersuchungen) kann man an der Glüheinrichtung an einem Rasterelektronenmikroskop JSM 35CF der Fa. Jeol bei Temperaturen bis 1050°C untersuchen. Zusätzlich besteht die Möglichkeit durch voll digitalisierte Aufnahmen von der Fa. Point Electronic GmbH mit Hilfe des Digital Image Scanning System DISS5 kinetischer Prozesse bei Benetzung und Temperatur wie z.B. der  Rekristallisation, der Phasenbildung usw. direkt zu beobachten.

Die Heizvorrichtung wurde im Eigenbau konstruiert und erlaubt eine direkte Temperaturerfassung auf dem Lot durch anliegende angelötete Thermoelemente. Als Heizungsquelle dient eine mit Kupferfolie umwickelte Halogenlampe.

TypJSM 35 CF
TemperaturHeiztisch (bis 1050°C)
SoftwareDigitalisierte Aufnahmen von kinetischen Prozessen (Fa. Point Electronic)
Auflösung 640x480 Bild/2 sec



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Kontakt

Foto von Dipl.-Ing. (FH) Lydia Reisch-Lang

Dipl.-Ing. (FH) Lydia Reisch-Lang

Telefon: 0231 755-4791

Adresse:

Lehrstuhl für Werkstofftechnologie
Leonhard-Euler-Str. 2
44227 Dortmund
Deutschland

Raum 109